Tan He: 5 books

Book cover of Das Prinzip der informierten Einwilligung des Patienten und Rechtswidrigkeit. Entwicklung und Rechtsprechung in China
by Tan He
Language: German
Release Date: August 2, 2016

Studienarbeit aus dem Jahr 2016 im Fachbereich Jura - Strafrecht, Universität Hamburg, Sprache: Deutsch, Abstract: Das Thema von 'Informierter Einwilligung des Patienten und Rechtswidrigkeit' ist sowohl eine theoretische Thematik von großem Wert als auch ein dringliches gesellschaftliches Problem...
Book cover of Registrierungserfordernisse für Grundstücks- und Wohnungserwerb in China
by Tan He
Language: German
Release Date: August 2, 2016

Studienarbeit aus dem Jahr 2016 im Fachbereich Jura - Zivilrecht / BGB AT / Schuldrecht / Sachenrecht, Universität Hamburg, Sprache: Deutsch, Abstract: Die Registrierung von Immobilien bezieht sich darauf, dass die staatlichen Registrierungsbehörden die dingliche Rechte betreffende Rechtsänderung...
Book cover of Das innere Verhältnis zwischen Restorative Justice und dem chinesischen traditionellen Rechtsdenken
by Tan He
Language: German
Release Date: August 2, 2016

Studienarbeit aus dem Jahr 2016 im Fachbereich Jura - Strafrecht, Universität Hamburg, Sprache: Deutsch, Abstract: Nach h.M. stammt 'Restorative Justice' aus den erfolgreichen einschlägigen Erfahrungen von Maoris. Tatsächlich kann man ähnliche Gedanken und Erfahrungen auch in China finden. Es...
Book cover of Environmentally Friendly Alkylphosphonate Herbicides
by Hong-Wu He, Hao Peng, Xiao-Song Tan
Language: English
Release Date: November 4, 2014

This book presents essential research on a class of environmentally friendly alkylphosphonate herbicides. This class of herbicides acted as a competitive inhibitor of the pyruvate dehydrogenase complex (PDHc) to control weeds. The bioreasoning and systematic approach, from basic research to field...
Book cover of Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
by Feifei He, Cher Ming Tan
Language: English
Release Date: March 16, 2013

Integrated circuit (IC) reliability is of increasing concern in present-day IC technology where the interconnect failures significantly increases the failure rate for ICs with decreasing interconnect dimension and increasing number of interconnect levels. Electromigration (EM) of interconnects has...
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